TFA-薄膜综合物性分析仪
TFA - 薄膜综合物性分析仪
高质量且易于使用的薄膜表征系统,可在单次测量中完成所有特性参数的表征。
在许多工业领域和应用中,精确掌握薄膜物理特性的知识变得愈发重要。典型实例包括相变材料、光存储介质、热电材料、发光二极管(LED)、燃料电池、相变存储器、平板屏幕以及广义上的半导体行业。
所有这些行业均使用单层或多层系统,以使器件(或组件)具备特定功能。 薄膜的物理特性与固体材料存在差异显著,这是因为较大的纵横比(膜厚度与横向扩展的比例)通常会引发额外的边界和表面散射效应,进而往往导致电荷和热输运显著减少。 此外,用于制备薄膜的沉积技术种类繁多,这些技术对薄膜的材料特性也会产生重要影响。
由于在某些情况下,表征薄膜与固体材料的要求存在显著差异,因此必须针对这两个领域采用不同的测量技术,借助合适的测量设备来确定其与厚度及温度相关的特性。林赛斯 TFA L59 薄膜综合物性分析仪可以快速便捷地表征各种薄膜样品的各项物理特性,为薄膜测量领域提供了一个非常完善的解决方案。易于使用的独立模块,优化的测量设计体系以及经验证的林赛斯固件和软件包可提供高质量的测量结果。



测量特性
  • 导热系数
  • 电阻率
  • 电导率
  • 塞贝克系数
  • 霍尔系数
  • 电荷载流子浓度
  • 霍尔迁移率
  • 发射率
  • 比热容
基本功能
  • 范德堡测量
  • 塞贝克系数测量
  • 导热系数测量
  • 可在单次测量中完成薄膜所有特性参数的表征
软件

林赛斯的所有热分析仪器均采用软件控制。各个软件模块需在Microsoft Windows操作系统下运行。


整个软件由温度控制、数据采集和数据评估三个模块组成。Windows软件集成了测量准备、实施和评估的热分析测量的所有基本功能。


经过我们技术专家和应用专家的不断努力,林赛斯开发出了全面的、易于理解的、易于使用的应用程序软件。

  • 概况

    与MS® Windows™ 系统完全兼容的软件

    断电时的数据安全性

    样品接触自动控制

    热电偶断路保护

    当前测量数据评估

    曲线对比

    评估结果的存储与导出

    ASCII 格式的数据导出与导入

    数据导出至 MS Excel

    便捷导出功能

    用于存档所有测量和评估数据的数据库

    在线帮助菜单

    统计曲线评估

    曲线分析的缩放选项

    内置评估插件

    可加载任意数量的曲线进行对比

  • 测量软件

    简单易用的数据输入,适用于温度段和测量任务

    自动输出实际测量的原始数据

    全自动测量

    用于多样品测量的全自动测量程序

  • 评估软件

    预定义的评估插件(依据已发布的模型)

    或者:可直接访问原始数据

    可直接对测量数据进行评估以计算其它参数(热导率、比热容、电阻率 / 电导率、塞贝克系数)

    数据绘图和导出操作简便

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