HCS-霍尔效应测量仪
HCS - 霍尔效应测量仪
适用于半导体及元件的特性表征
如果将一个载流半导体置于磁场中,就可以观察到所谓的霍尔效应。霍尔效应测量仪正是用于半导体材料的载流子浓度、迁移率、霍尔系数等重要参数,这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌握的,因此霍尔效应测量仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。林赛斯的霍尔效应测量仪,是基于范德堡方法原理设计出的自动化测试仪器,可以测试导电薄膜样品的电阻率、电导率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度和磁致电阻等参数,具有操作方便快捷,测量准确等优点。
测量特性
  • 载流子浓度
  • 电阻
  • 电阻率
  • 迁移率
  • 电导率
  • 霍尔系数
  • 磁致电阻
基本功能
  • 载流子浓度、电阻、霍尔系数等特性参数的测量
软件

林赛斯的所有热分析仪器均采用软件控制。各个软件模块需在Microsoft Windows操作系统下运行。


整个软件由温度控制、数据采集和数据评估三个模块组成。Windows软件集成了测量准备、实施和评估的热分析测量的所有基本功能。


经过我们技术专家和应用专家的不断努力,林赛斯开发出了全面的、易于理解的、易于使用的应用程序软件。

  • 常规功能

    NIST 校准程序:用于优化测量设置,获取高精度结果

    扩展连接测试

    支持外部电子设备集成

    可选数据库存储

    可选锁相放大器集成

    自动传感器检测(EEPROM)

    自动数据分析

    全自动冷却控制

    在线访问自定义数据(根据具体版本而定)

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