林赛斯 DIL L75 Laser 激光膨胀仪基于迈克尔逊干涉法的测量原理,能够在皮米范围内以高精度和分辨率进行膨胀测量(0.3 纳米 = 300 皮米),其分辨率可比传统推杆式膨胀仪高出 33 倍。
在开发过程中,特别强调了设备操作的简便性,这使得其操作方式可以与传统推杆式膨胀仪的操作方式相符。
DIL L75 Laser 的样品制备无需任何特殊处理,设备也不需要任何特殊的样品几何形状,反射和非反射性的样品都可以进行测量。
类型 | DIL L75 Laser * |
温度范围: | -180 - 500 °C RT - 1000 °C |
分辨率: | 0.3 nm |
加热 / 冷却速率: | 0.01 K/min … 50 K/min |
样品支架: | 熔融石英 |
样品长度: | 高达 20 mm |
样品直径: | 高达 7 mm |
气氛: | 惰性,氧化,还原,真空 |
接口: | USB |
* 规格取决于配置 |
广泛应用于石墨、玻璃、复合材料、半导体等材料的测量
在空气气氛下,对一个因瓦合金样品从室温至210℃的温度范围内进行了四次测量和评估。通过比较激光膨胀仪上的四次运行结果确定了可重复性。
如图所示,实现了测量范围 0.01% 的可重复性。结果表明,使用激光膨胀仪的可重复性比使用传统推杆式膨胀仪高 33 倍。
另外一个优点是激光膨胀仪提供绝对的膨胀值读数,无需进行任何校正。