基础版本LSR-1（LSR L32）在室温至 200 °C 范围内可以与各种选配件结合使用，以扩展其应用范围。例如，低温配件，支持通过液氮冷却实现低至 -160 °C 的全自动测量，可快速冷却至 80 K（仅限电阻测量）。可选的高温探头可将电阻测量扩展至 600 °C ，光照配件则支持在三波长 LED 光源下进行特定光照条件下的热电测量。LSR-1（LSR L32）系统采用范德堡法（电阻测量）、静态直流法和斜率塞贝克系数测量技术，适用于金属和半导体样品的表征。
其紧凑的台式设计支持全自动和软件控制操作，基于 Windows 的综合软件提供直观的用户界面，包括测量配置向导、数据可靠性反馈以及集成的数据评估与存储功能。真空密闭测量室与气体计量系统相结合，确保满足广泛的应用需求，便于高精度热电材料的研究。
| 类型 | LSR-1 (LSR L32) |
| 温度范围： | 基础单元：室温至 200 °C 低温配件：-160 °C 至 200 °C |
| 测量原理： | 塞贝克系数测量范围：0 至 2.5 mV/K，温度梯度可达 10 K 塞贝克电压测量范围：±8 mV |
| 气氛： | 惰性、还原性、氧化性、真空 推荐使用低压氦气以优化测量条件 |
| 样品支架： | 集成 PCB 板，配备主加热和辅助加热功能，确保均匀温控 |
| 样品尺寸（塞贝克系数测量）： | 长度：8 mm 至 25 mm 宽度：2 mm 至 25 mm 厚度：薄膜样品最高 2 mm |
| 样品尺寸（电阻测量）： | 长度：18 mm 至 25 mm 宽度：18 mm 至 25 mm 厚度：薄膜样品最高 2 mm |
| 真空泵： | 选配 |
| 加热速率： | 0.01 - 100 K/min，满足快速升温需求 |
| 温度精度： | ±1.5 °C 或 0.0040 · | t |，确保高精度温控 |
| 电阻测量范围： | 10 nOhm，适用于低电阻材料 |
| 电压测量范围： | 0.5 nV/K（nV = 10-9 V），支持高灵敏度测量 |
广泛应用于各种块体和薄膜形式的热电材料塞贝克系数和电阻的测量
在梯度加热功率扫描过程中，测量塞贝克电压/温度梯度（蓝色），并与线性回归（红色）对比。
塞贝克系数通过线性回归的斜率确定，确保测量结果的精确性。
该方法中，塞贝克系数相对于镍铝（合金）测量。通过温度测量铂相对于镍铝（合金）丝的绝对塞贝克系数，为材料性能评估提供可靠依据。
以康铜的塞贝克系数测量为例，展示材料在不同温度下的热电性能变化，为热电材料研究提供重要参考。
