林赛斯 DIL L75 水平热膨胀仪和 DIL L75 垂直热膨胀仪是用于测量固体、液体、粉末和糊状物热长度变化的高精度仪器。
DIL L75 水平热膨胀仪具有高度真空密封的设计，能够在真空以及氧化性和还原性气氛下进行测量。DIL L75 垂直热膨胀仪的特点在于其“零摩擦”设计，这特别适用于烧结研究和具有极低膨胀的材料。这两种系统均采用高分辨率线性电感位移传感器，确保高精度、可重复性和长期稳定性。
得益于优异的温度控制以及可选择适配于手套箱使用的特性，它们的应用十分广泛。此外，这两种型号都提供自动压力控制，该功能允许根据不同的应用情况来调节接触压力，并在整个测量过程中保持压力恒定。
DIL L75 垂直热膨胀仪的低温选项可实现在 -263 ℃ 至 220 ℃ 的温度范围内进行测量，它提供了多种样品支架，支持真空操作和可控气氛环境，并确保了测量的高精度以及操作的简便性。
| 类型 | DIL L75 Horizontal * | DIL L75 Vertical * | |
| 温度范围： | -180 - 2800 °C | -263 - 2800°C | |
| LVDT | |||
| Delta L 分辨率： | 0.03 nm | 0.03 nm | |
| 测量范围： | ±2500 µm | ±2500 µm | |
| 接触力： | 10 mN - 1 N | 10 mN - 1 N | |
| 光学编码器 | |||
| Delta L 分辨率： | 0.1 nm | 0.1 nm | |
| 测量范围： | ±25000 µm | ±25000 µm | |
| 自动样品长度检测： | 具备 | 具备 | |
| 接触力控制 | 具备 | 具备 | |
| 接触力： | 10 mN - 5 N | 10 mN - 5 N | |
| 多炉体配置： | 最多 2 个炉体 | 最多 3 个炉体 | |
| 电动炉体选项： | 可选 | 可选 | |
| 气体流量计： | 手动气体计量或质量流量控制器，可控制 1 种、3 种或更多种气体 | 手动气体计量或质量流量控制器，可控制 1 种、3 种或更多种气体 | |
| 接触力调整： | 包含 | 包含 | |
| 单杆/双杆热膨胀 | 可选 | 可选 | |
| 软化点检测： | 包含 | 包含 | |
| 密度测定： | 包含 | 包含 | |
| L - DTA： | 可选（可达 2000 °C） | 可选（可达 2000 °C） | |
| 速率控制烧结 (RCS)： | 包含 | 包含 | |
| 热分析数据库： | 包含 | 包含 | |
| 电恒温探头： | 包含 | 包含 | |
| 低温附件： | LN2,内部冷却器 | LN2,内部冷却器 | |
| 真空密闭设计： | 具备 | 具备 | |
| 自动排空系统： | 可选 | 可选 | |
| OGS 除氧系统： | 可选 | 可选 | |
| * 规格取决于配置 |
广泛应用于玻璃、陶瓷、金属、建筑材料、复合材料、聚合物等材料的测量。
热膨胀法是一种用于测定玻璃陶瓷热膨胀系数（CTE）和软化点的极好的方法。除了绝对膨胀量之外，还可以计算相对膨胀量和热膨胀系数 (CTE)，以及绝对膨胀量对温度的一阶导数。
微分曲线的零值点处对应的是热膨胀量的最大值，因此可以精确地计算出材料的软化点。
在高科技陶瓷的生产过程中，烧结过程的模拟具有重要意义。使用可选的速率控制烧结（RCS）软件包，可以根据 PALMOUR III理论，使用热膨胀仪来控制材料的烧结过程。
此应用展示了二氧化锆（ZrO₂）生坯（一种典型的陶瓷原材料）的烧结过程。 在此应用中，对氧化锆（ZrO₂）的烧结过程进行控制，通过将升温速率作为密度的函数来进行调控，从而实现最终达到 100% 的致密度。
使用 L75 热膨胀仪和差热分析（DTA）评估附加组件，可以对结晶态（SiO₂）样品进行同时带有温度校准的DTA测量。在样品的线性升温阶段，控制行为会因吸热和放热反应而发生改变，并且该变化会由软件程序进行校正。从这些变化中生成一条 DTA 曲线。
根据文献报道，对于 SiO₂ 而言，这种转变发生在 574 ℃，因此可以利用 DTA 峰来检验校准情况。
