对于热电材料，例如用于传感器或Peltie元件的热电材料，使用新型的LINSEIS LSR-1可以轻松方便地以固体材料和薄膜的形式来进行表征。在基础版本新型LSR-1中，塞贝克系数和电阻率都可以在-160°C至200°C范围内自动同时测量。基础版可配备气体检测器，可扩展气体计量系统，样品照明和冷却选项。
新型的LSR-1系统允许根据著名的范德堡法（电阻率）以及通过梯度扫描和线性回归计算塞贝克系数来表征金属和半导体样品。
薄膜广泛应用于半导体技术、液晶显示器（LCD）的生产和许多其他纳米技术，如太阳能组件、传感器的生产或医疗技术等，使用新型的LSR-1可轻松方便的测量薄膜的性质。
